电视机高压包，命名没有一个统一的，但很多都是通用的，一般的维修部都有高压包的。 高压包本身也是易损器件，维修部应该有配件的。
你找的那个维修人员，是业余的么？怎么还要叫你买配件呢？ 电子市场里有卖，维修部一般都有，实在不行，上淘宝网买也可以。
   
行管本身工作在高压大流电下，发热是正常的。
行管也是易损坏的器件，但若行管坏的时候，也有可能是别的原因造成的。更换之前，应该先检查其它电路是否正常。
下面贴点资料：
根据行管击穿的故障类型分根据行管击穿的故障类型分： 
1、过压击穿 
2、过流击穿 
行管损坏后，我们在拆下行管，可以使用万用表测量其静态电阻，如果 CE阻值在数百欧姆，行管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前需要有一定的时间积累。
   
如果 CE阻值在数欧姆，此类情况是行管过压烧毁，多数都是瞬间意外突然烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行管，或者是使用几天也没有问题但没有规律某次开机时突然烧行管。 
行管击穿维修的检修方法行管击穿维修的检修方法： 
1、 电流监测法 
检测点：在+45V或+51V或+190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供电调整管滤波电容处，行包初级线圈后。
   
2、 电压测量法 
显示器的行激励供电因为显示器设计不同，有取自+12V，+45V，+80V等几种，显示器的行管有使用双极型的，也有使用场效应管的。 
如果不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在代换行激励管后，最好使用示波器测量一下波形，同时长时间监测一下行管的温升。
   
3、 波形检测对比法 
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行管的 B极，行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的，如果某点VPP 值变低或变高，都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。
  如果某点的波形畸变，也会造成行管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅速定位故障点，找出故障原因。 
4、 温度测量法 
主要用于更换行管后，对行管的温度进行长时间监控，一般行管连续使用两70 度以下，基本都可以使用。注意测个小时以上，行管的温度不上升，保持在量时，要盖上后盖，不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异，要测量时要注意与实际使用环境温度相当。
   
5、 元件替换排除法 
对于判断行逆程电容容量减小的故障，可以采用电容并联法。 
对于行管发热量大的问题，可以选用几个不同的行管（三代，四代，五代） 
的行管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。 
行管击穿的原因分类行管击穿的原因分类： 
1、 开关电源输出电压偏高 
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B+电压上升。
  如果 B+电压超过 10%以上，会产生行管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路，误差放大器和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源允许的稳压值范围，也会造成开关电源输出电压偏高。 
2、 二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高 
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升高，而不是开机后直接跳为高电压。
  如果缓启动电容失容损坏，就会造成开机时电压立即跳升，同时电压不稳，容易造成烧行管。 
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异常。 
3、 行偏转线圈或行输出变压器局部短路 
行偏转线圈?Y行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短路，如果保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。
  这时可与同型号正常机器相比较，通过测量行输出级电流来判断。如果开机瞬间马上烧坏行管，此时用手摸散热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击穿。 
4、 行频过低 
因为流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的电流最大值时，使用行管烧坏。
  因此，在调整行频时，应避免使用行频长期处于偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产生，一般不会出现行频过低现象。 
5、 行逆程时间过短 
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。
  当行逆程电容容量变小，失效或开路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是因为逆程电容开路而引起的过压击穿。 
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
   
6、 行激励不足 
如果行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使用行扫描线性变差；如果行激励不足，行管不能迅速地截止，使用行管长时间地处于有电流流过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦超过行管功耗的极限值，则会使用行管再度烧坏。
  其时间间隔有快有慢，有的则开机就烧行管；有的过一段时间才会烧行管。若时间间隔长，不防用示波器观察激励级的波形，可帮助找到故障原因。 
造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻值增大；行激励变压器的周围元件有虚焊；行激励变压器初级烧组上的滤波电容变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失效造成滤波不良。
   
7、 环境潮湿 
这使用行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行管过热，使其耐压降低，最终导致损坏行管。 
8、 行偏转线圈开路 
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止时间，使用行管在逆程时间内也短暂导通，导致行管损坏。
  因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈及其回路开路的情况下，如果长时间通电检修，是极危险的。 
9、 行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。 
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行管因过流而击穿。 
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高压线穿孔)，行管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行管过流击穿。
   
10、 开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。 
受附近大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行管击穿。 
11、 行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行管，逆程二极管等引脚虚焊 
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行管，行包，逆程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造成瞬间的接通与截止，尖峰电压很容易烧毁电源管和行管。
   
12、 行管型号不对或行管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管或阻尼电阻的行管 
我们在测量行扫描电路的、关键点电压时，也要注意测量方法，如果测量方法不当也会瞬间烧行管。 
13、 高压打火，也是造成行管损坏的一种原因 
高压包在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，容易出现高压打火现象。
  高压打火可能发生在高压包内部，也可能发生在高压包对接地装置，也可能是高压嘴周围打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致行管负载变化异常造成行管烧毁。 
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屡烧行管原因与维修 
1、开关电源输出高压偏高 由于电源稳压系统出故障，不能稳压，导致+B电压上升。
  如果+B电压超过10%以上，会产重型珩管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路、误差放大器和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源允许的稳压值范围，也会造成开关电源输出电压偏高。 
2、行偏转线圈或行输出变压器局部短路 行偏转线圈或行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短路，如果保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。
  这时可瑟同型号正常机器相比较，通过测量行输出级电流来判断。如果开机瞬间马上就烧坏行管，此时用手摸散热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击穿。 
3、行频过低 因为流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的电流最大值时，使行管烧坏。
  因此，在调整行频时，应避免使行频长期处于偏低状态。 
4、行逆程时间过短。 在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容、行输出管、阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小、失效或环节路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只的结果。
  此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是因为逆程电容开路而引起的过压击穿。解决方法，是将行逆程电容全部换新。 
5、行激励不足 如果行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使行扫描纯正性变差；如果行激励不足，行管不能迅速地截止，使行管长时间地处一动有电流渡过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。
  一旦超过行管功耗的极限值，则会使行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的刚开机就烧坏行管，有的过一段时间才烧坏行管。若时间间隔长，不妨用示波器观察激励级的波形，可帮助找到故障原因。造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻值增大；行激励变压器周围元件有虚焊；行激励变压器初级绕组上的滤波电容变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失效造成滤波不良。
   
6、环境潮湿 这使行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良（如将彩电置于柜内，或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧），行管过热，使其耐压降低，最终损坏行管。 
7、行偏转线圈开路 此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止的时间，使行管在逆程时间内也短暂导通，导致行管损坏。
  因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈及其回路开路的情况下，如果长时间通电检修，是极危险的。 
8、S校正电容短路，枕校电路元件短路 使行电流大增，造成行管因过流而击穿。 此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露（如高压打火，高压线穿孔），行管质量差、显像管内部跳火、AFC电路有故障等，也会造成行管击穿。
   
9、开关电源中的行脉冲信号耦合电容、取样电压滤波电容失容。 受附近大功率元件高温烘烤后，容易失容而变质，导致行管击穿，根治方法是将这些电容换成钽电容。 
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